Hiển thị tất cả 11 kết quả

Kính hiển vi điện tử quét (SEM) của ZEISS quét mẫu bằng chùm tia điện tử tập trung và thu được hình ảnh có thông tin về địa hình và thành phần của mẫu. SEM mang lại hình ảnh có độ phân giải cao và độ tương phản vật liệu vượt trội.