Kính hiển vi điện tử quét (SEM) của ZEISS quét mẫu bằng chùm tia điện tử tập trung và thu được hình ảnh có thông tin về địa hình và thành phần của mẫu. SEM mang lại hình ảnh có độ phân giải cao và độ tương phản vật liệu vượt trội.
Kính hiển vi điện tử quét (SEM)
Kính hiển vi điện tử quét (SEM)
Kính hiển vi điện tử quét (SEM)
Dòng Crossbeam – Kính hiển vi ion hội tụ kết hợp điện tử quét (FIB-SEM)
Kính hiển vi điện tử quét (SEM)
Kính hiển vi điện tử quét (SEM)
Dòng GeminiSEM – Kính hiển vi điện tử quét phát xạ trường (FE-SEM)
Kính hiển vi điện tử quét (SEM)
Dòng Sigma – Kính hiển vi điện tử quét phát xạ trường (FE-SEM)
Kính hiển vi điện tử quét (SEM)
Kính hiển vi điện tử quét (SEM)
Kính hiển vi điện tử quét (SEM)
Kính hiển vi điện tử quét (SEM)
Kính hiển vi điện tử quét (SEM)
EN