Hiển thị tất cả 2 kết quả

Kính hiển vi tia X có thể cung cấp cách hình ảnh 3D bên trong mẫu vật mà không cần phá hủy mẫu với độ phân giải từ submicron đến nano và cho phép phân tích định lượng vi cấu trúc mẫu vật 3D.