Talos F200X G2 – Kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM)

Kính hiển vi TEM cho TEM và STEM có độ phân giải cao với khả năng định lượng hóa học chính xác.

Kính hiển vi điện tử truyền qua Talos F200X G2

Thermo Scientific Talos F200X STEM là kính hiển vi điện tử truyền qua quét kết hợp hình ảnh STEM và TEM có độ phân giải cao vượt trội với khả năng phát hiện tín hiệu quang phổ tia X phân tán năng lượng (EDS) hàng đầu trong ngành. Xác định đặc tính hóa học 2D/3D với ánh xạ thành phần được thực hiện bởi 4 máy dò SDD Super-X trong cột với độ sạch độc đáo. Kính hiển vi điện tử truyền qua quét Talos F200X cho phép phân tích EDS nhanh nhất và chính xác nhất ở mọi chiều, cùng với hình ảnh TEM và STEM (HRTEM và HRSTEM) độ phân giải cao với khả năng điều hướng nhanh cho kính hiển vi động. Kính hiển vi điện tử truyền qua quét Talos F200X cũng có tính năng giảm độ nhạy môi trường; vỏ thiết bị điều chỉnh tác động của sóng áp suất không khí, luồng không khí và sự thay đổi nhiệt độ nhỏ trong phòng TEM.

Hình ảnh STEM và phân tích hóa học

Talos F200X (S)TEM cung cấp đặc tính định lượng, nhanh chóng, chính xác của vật liệu nano ở nhiều chiều. Với các tính năng cải tiến được thiết kế để tăng thông lượng, độ chính xác và dễ sử dụng, Talos F200X (S)TEM lý tưởng cho nghiên cứu và phân tích nâng cao trong môi trường học thuật, chính phủ, chất bán dẫn và công nghiệp.

Nhu cầu về hình ảnh tương quan diện rộng ở độ phân giải cao gần đây đã tăng lên vì nó cho phép các nhà nghiên cứu duy trì bối cảnh quan sát của họ đồng thời cung cấp dữ liệu thống kê mạnh mẽ. Phần mềm Bản đồ Khoa học Thermo (được hỗ trợ bởi Phần mềm Thermo Scientific Velox) tự động thu thập một loạt hình ảnh trên một mẫu và ghép chúng lại với nhau để tạo ra một hình ảnh lớn cuối cùng. Việc thu thập hình ảnh thậm chí có thể được thực hiện mà không cần giám sát. Gói APW (Quy trình làm việc hạt tự động) có tất cả các lợi ích được mô tả trong phần này và bổ sung khả năng xử lý độc đáo trên PC xử lý chuyên dụng với Phần mềm Thermo Scientific Avizo2D. Người sử dụng có thể nhận các thông số hạt nano như kích thước, diện tích, chu vi, hình dạng, hệ số, danh bạ, v.v., một cách tự động. Gói phần mềm hoàn toàn tự động và không cần giám sát cho phép sử dụng Talos F200X (S)TEM 24/7, nhận được số liệu thống kê tốt hơn nhiều và cải thiện đáng kể khả năng lặp lại vì không có sự thiên vị của người vận hành.

Phần mềm tự động hóa Align Genie giúp giảm bớt quá trình đào tạo cho người vận hành mới làm quen, tạo sự thoải mái trong môi trường nhiều người dùng và cải thiện thời gian xử lý dữ liệu cho người vận hành có kinh nghiệm.

Độ phân giải dòng HRTEM
  • .10,10nm
độ phân giải STEM
  • .16nm (X-FEG)
  • .14 ​​nm với 100 pA (X-CFEG)
Hệ thống Super-X EDS
  • 4 SDD thiết kế đối xứng, không cửa sổ, có cửa chớp bảo vệ
Độ phân giải năng lượng của phổ tiêu hao năng lượng điện tử (EELS)
  • .80,8 eV (X-FEG)
  • .30,3 eV (X-CFEG
Hiệu suất sáng của súng ở 200 kV
  • 1,8×10 9  A /cm 2  srad (X-FEG)
  • 2,4×10 9  A /cm 2  srad (X-CFEG)

Có sẵn với nhiều loại súng phát xạ trường có độ phân giải cao (FEG)

Chọn X-FEG độ sáng cao hoặc Súng phát xạ trường lạnh độ sáng cực cao (X-CFEG). X-CFEG kết hợp hình ảnh TEM (S) tốt nhất với độ phân giải năng lượng tốt nhất.

Phần mềm trực quan

Phần mềm Thermo Scientific Velox cung cấp khả năng thu thập và phân tích dữ liệu đa phương thức nhanh chóng và dễ dàng.

Thời gian nhanh hơn để phân tích thành phần hóa học

Phân tích định lượng EDS nhanh chóng, chính xác cho thấy các chi tiết có kích thước nano ở dạng 2D và 3D với độ rõ nét cao.

Dữ liệu hình ảnh tốt hơn

Hình ảnh STEM thông lượng cao với khả năng phát hiện nhiều tín hiệu đồng thời mang lại độ tương phản tốt hơn cho hình ảnh chất lượng cao.

Tối ưu không gian

Thêm giá đỡ mẫu tại chỗ dành riêng cho ứng dụng cho các thử nghiệm động.

Hình ảnh TEM (S) chất lượng cao và EDS chính xác

Thu được hình ảnh TEM hoặc STEM chất lượng cao với giao diện người dùng Phần mềm Velox sáng tạo và trực quan. Hiệu chỉnh độ hấp thụ EDS độc đáo trong Phần mềm Velox cho phép định lượng có độ chính xác cao.

Thu thập dữ liệu có độ lặp lại cao

Tất cả các điều chỉnh TEM hàng ngày, chẳng hạn như tiêu điểm, độ cao tâm tâm, dịch chuyển chùm tia, khẩu độ tụ quang, điểm trục nghiêng chùm tia và tâm xoay đều được tự động hóa, đảm bảo bạn luôn bắt đầu từ điều kiện hình ảnh tối ưu. Các thí nghiệm có thể được lặp lại nhiều lần, cho phép bạn tập trung vào nghiên cứu

Tăng năng suất

Cột ổn định và vận hành từ xa với Camera SmartCam và thấu kính vật kính có công suất không đổi cho chế độ nhanh và công tắc điện áp cao (HT). Chuyển đổi nhanh chóng và dễ dàng cho môi trường nhiều người dùng.

  • Kiểm soát quá trình bằng kính hiển vi điện tử
  • Kiểm soát chất lượng và phân tích lỗi
  • Nghiên cứu vật liệu cơ bản
  • Nghiên cứu và phát triển chất bán dẫn
  • Đo lường bán dẫn
  • Phân tích lỗi bán dẫn
  • Đặc tính vật liệu bán dẫn

Quang phổ tán sắc năng lượng

Quang phổ tán sắc năng lượng (EDS) thu thập thông tin nguyên tố chi tiết cùng với hình ảnh kính hiển vi điện tử, cung cấp bối cảnh thành phần quan trọng cho các quan sát EM. Với EDS, thành phần hóa học có thể được xác định từ việc quét bề mặt nhanh chóng, toàn diện đến từng nguyên tử.

Chụp cắt lớp 3D EDS

Nghiên cứu vật liệu hiện đại ngày càng phụ thuộc vào phân tích ba chiều ở cấp độ nano. Có thể mô tả đặc tính 3D, bao gồm dữ liệu thành phần cho bối cảnh hóa học và cấu trúc đầy đủ bằng phương pháp quang phổ tia X 3D EM và phân tán năng lượng.

Phân tích nguyên tố EDS

Phần mềm lập bản đồ nguyên tố hiện tượng nhiệt khoa học cung cấp thông tin nhanh chóng và đáng tin cậy về sự phân bố các nguyên tố hóa học trong mẫu.

EDS độ phân giải nguyên tử

EDS có độ phân giải nguyên tử cung cấp bối cảnh hóa học tối ưu cho việc phân tích vật liệu bằng cách phân biệt danh tính nguyên tố của từng nguyên tử. Khi kết hợp với TEM độ phân giải cao, có thể quan sát chính xác tổ chức của các nguyên tử trong mẫu.

Phổ tổn hao năng lượng điện tử (EELS)

Nghiên cứu khoa học vật liệu được hưởng lợi từ EELS có độ phân giải cao cho nhiều ứng dụng phân tích. Điều này bao gồm ánh xạ nguyên tố có thông lượng cao, tỷ lệ tín hiệu trên nhiễu cao, cũng như thăm dò các trạng thái oxy hóa và phonon bề mặt.

Thử nghiệm in situ

Cần phải quan sát trực tiếp, theo thời gian thực các thay đổi cấu trúc vi mô bằng kính hiển vi điện tử để hiểu các nguyên tắc cơ bản của các quá trình động như kết tinh lại, phát triển hạt và chuyển pha trong quá trình gia nhiệt, làm lạnh hoặc thấm ướt

Phân tích hạt

Phân tích hạt đóng một vai trò quan trọng trong nghiên cứu vật liệu nano và kiểm soát chất lượng. Độ phân giải ở quy mô nanomet và hình ảnh vượt trội của kính hiển vi điện tử có thể được kết hợp với phần mềm chuyên dụng để xác định nhanh đặc tính của bột và hạt.

Phân tích đa quy mô

Các vật liệu mới phải được phân tích ở độ phân giải cao hơn trong khi vẫn giữ được lượng lớn hơn của mẫu. Phân tích đa quy mô cho phép tương quan giữa các công cụ và phương thức hình ảnh khác nhau như X-quang microCT, DualBeam, Laser PFIB, SEM và TEM.

Đo lường TEM

Quy trình đo TEM tự động và nâng cao mang lại độ chính xác cao hơn đáng kể so với các phương pháp thủ công. Điều này cho phép người dùng tạo ra một lượng lớn dữ liệu có liên quan về mặt thống kê, với độ đặc hiệu ở cấp độ dưới angstrom

Hình ảnh và phân tích TEM

Kính hiển vi điện tử truyền qua Thermo Scientific cung cấp hình ảnh và phân tích độ phân giải cao của các thiết bị bán dẫn, cho phép nhà sản xuất hiệu chỉnh bộ công cụ, chẩn đoán cơ chế hỏng hóc và tối ưu hóa năng suất quy trình tổng thể.