Talos F200i – Kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM)

Phân tích TEM và STEM cho thông lượng cao, mô tả đặc tính hóa học có độ phân giải cao và quan sát động.

Kính hiển vi điện tử truyền qua Talos F200i

Thermo Scientific Talos F200i (S)TEM là kính hiển vi điện tử truyền qua (quét) phát xạ trường 20-200 kV được thiết kế độc đáo để mang lại hiệu suất và năng suất trên nhiều mẫu và ứng dụng Khoa học Vật liệu. Khoảng cách mảnh cực X-Twin tiêu chuẩn của nó—mang lại tính linh hoạt cao nhất trong các ứng dụng—kết hợp với cột điện tử có khả năng tái tạo sẽ mở ra cơ hội mô tả đặc tính 2D và 3D có độ phân giải cao, quan sát động tại chỗ và các ứng dụng nhiễu xạ.

Ưu điểm

Được thiết kế cho môi trường nhiều người dùng và đa ngành, Talos F200i (S)TEM cũng lý tưởng cho người dùng mới làm quen. Nó được trang bị giao diện người dùng Thermo Scientific Velox, giao diện này ngay lập tức quen thuộc vì được chia sẻ trên tất cả các nền tảng Thermo Scientific TEM. Tất cả các điều chỉnh hàng ngày của TEM đã được tự động hóa để cung cấp thiết lập tốt nhất và có thể lặp lại nhiều nhất. Phần mềm tự động hóa Align Genie giúp người vận hành mới làm quen dễ dàng hơn, giảm căng thẳng trong môi trường nhiều người dùng và cải thiện thời gian xử lý dữ liệu cho người vận hành có kinh nghiệm. Có thể thêm máy dò Quang phổ tia X phân tán năng lượng (EDS) có thể thu vào bên cạnh vào cấu hình để cho phép phân tích hóa học.

TEM
  • Độ phân giải dòng: .10,10nm
Hệ điều hành XX đơn vị
  • Bộ điều khiển: Windows® 10
  • Điều khiển từ xa: Có
Hệ thống chân không
  • Bơm Airlock: Không dầu và không rung
  • Cold trap: Tiêu chuẩn
  • Dewar thời gian dài: Tùy chọn – thời gian chờ ít nhất 4 ngày (giữa các lần nạp lại)
Hình ảnh STEM
  • Độ phân giải STEM:
    • .16nm (S-FEG/X-FEG)
    • .140,14nm với 100pA (X-CFEG)
  • Máy dò: HAADF và/hoặc Panther BF/DF trên trục
Quang phổ tán sắc năng lượng (EDS)
  • Kích thước máy dò (Bruker X-flash): 30, 100 hoặc kép 100 mm 2
  • Có thể thu vào: Có, có động cơ
Phổ tổn hao năng lượng điện tử (EELS)
  •  .80,8 eV (S-FEG/X-FEG)
  •  .30,3 eV (X-CFEG)
Hiệu suất sáng của súng 200 kV
  • 4×10 8  A /cm 2  srad (S-FEG)
  • 1,8×10 9  A /cm 2  srad (X-FEG)
  • 2,4×10 9  A /cm 2  srad (X-CFEG)

Có sẵn với nhiều loại súng phát xạ trường có độ phân giải cao (FEG)

Chọn S-FEG, X-FEG độ sáng cao hoặc Súng phát xạ trường lạnh độ sáng cực cao (X-CFEG). X-CFEG kết hợp hình ảnh TEM (S) tốt nhất với độ phân giải năng lượng tốt nhất.

Có sẵn với công nghệ Dual EDS

Chọn máy dò EDS tốt nhất cho nhu cầu người sử dụng, từ máy dò 30 mm2 đơn lẻ đến máy dò 100 mm2 kép để phân tích thông lượng cao (hoặc lượng thấp).

Hình ảnh STEM/TEM chất lượng cao và EDS chính xác

Thu được hình ảnh TEM hoặc STEM chất lượng cao với giao diện người dùng Phần mềm Velox trực quan và sáng tạo theo cách rất đơn giản. Hiệu chỉnh độ hấp thụ EDS độc đáo trong Phần mềm Velox cho phép định lượng chính xác nhất.

Khả năng toàn diện tốt nhất tại chỗ

Thêm chụp cắt lớp hoặc giá đỡ mẫu tại chỗ. Máy ảnh nhanh, phần mềm thông minh và khoảng cách thấu kính vật kính X-TWIN rộng của chúng tôi cho phép chụp ảnh 3D và thu thập dữ liệu tại chỗ với mức độ ảnh hưởng tối thiểu đến độ phân giải và khả năng phân tích.

Tăng năng suất

Cột ổn định và vận hành từ xa với Camera SmartCam và thấu kính vật kính có công suất không đổi cho chế độ nhanh và công tắc điện áp cao (HT). Chuyển đổi nhanh chóng và dễ dàng cho môi trường nhiều người dùng.

Dữ liệu lặp lại nhiều nhất

Tất cả các điều chỉnh TEM hàng ngày, chẳng hạn như tiêu điểm, độ cao tâm tâm, dịch chuyển chùm tia, khẩu độ tụ quang, điểm trục nghiêng chùm tia và tâm xoay đều được tự động hóa, đảm bảo bạn luôn bắt đầu từ điều kiện hình ảnh tối ưu. Các thí nghiệm có thể được lặp lại một cách có thể lặp lại, cho phép tập trung nhiều hơn vào nghiên cứu

Hình ảnh trường nhìn lớn ở tốc độ cao

Camera Ceta CMOS 4k × 4k với trường nhìn rộng cho phép thu phóng kỹ thuật số trực tiếp với độ nhạy cao và tốc độ cao trên toàn bộ phạm vi cường độ cao.

Thiết kế nhỏ gọn

Dấu chân và kích thước nhỏ hơn tạo điều kiện thuận lợi cho việc sử dụng công cụ này trong những không gian khó khăn hơn đồng thời giảm chi phí cơ sở hạ tầng và hỗ trợ.

  • Kiểm soát quá trình bằng kính hiển vi điện tử
  • Kiểm soát chất lượng và phân tích lỗi
  • Nghiên cứu vật liệu cơ bản

Quang phổ tán sắc năng lượng

Quang phổ tán sắc năng lượng (EDS) thu thập thông tin nguyên tố chi tiết cùng với hình ảnh kính hiển vi điện tử, cung cấp bối cảnh thành phần quan trọng cho các quan sát EM. Với EDS, thành phần hóa học có thể được xác định từ việc quét bề mặt nhanh chóng, toàn diện đến từng nguyên tử.

Chụp cắt lớp 3D EDS

Nghiên cứu vật liệu hiện đại ngày càng phụ thuộc vào phân tích ba chiều ở cấp độ nano. Có thể mô tả đặc tính 3D, bao gồm dữ liệu thành phần cho bối cảnh hóa học và cấu trúc đầy đủ bằng phương pháp quang phổ tia X 3D EM và phân tán năng lượng.

EDS độ phân giải nguyên tử

EDS có độ phân giải nguyên tử cung cấp bối cảnh hóa học tối ưu cho việc phân tích vật liệu bằng cách phân biệt danh tính nguyên tố của từng nguyên tử. Khi kết hợp với TEM độ phân giải cao, có thể quan sát chính xác tổ chức của các nguyên tử trong mẫu.

Phân tích nguyên tố EDS

Phần mềm lập bản đồ nguyên tố hiện tượng nhiệt khoa học cung cấp thông tin nhanh chóng và đáng tin cậy về sự phân bố các nguyên tố hóa học trong mẫu.

Phổ tổn hao năng lượng điện tử (EELS)

Nghiên cứu khoa học vật liệu được hưởng lợi từ EELS có độ phân giải cao cho nhiều ứng dụng phân tích. Điều này bao gồm ánh xạ nguyên tố có thông lượng cao, tỷ lệ tín hiệu trên nhiễu cao, cũng như thăm dò các trạng thái oxy hóa và phonon bề mặt.

Thử nghiệm in situ

Cần phải quan sát trực tiếp, theo thời gian thực các thay đổi cấu trúc vi mô bằng kính hiển vi điện tử để hiểu các nguyên tắc cơ bản của các quá trình động như kết tinh lại, phát triển hạt và chuyển pha trong quá trình gia nhiệt, làm lạnh hoặc thấm ướt

Phân tích hạt

Phân tích hạt đóng một vai trò quan trọng trong nghiên cứu vật liệu nano và kiểm soát chất lượng. Độ phân giải ở quy mô nanomet và hình ảnh vượt trội của kính hiển vi điện tử có thể được kết hợp với phần mềm chuyên dụng để xác định nhanh đặc tính của bột và hạt.

Phân tích đa quy mô

Các vật liệu mới phải được phân tích ở độ phân giải cao hơn trong khi vẫn giữ được lượng lớn hơn của mẫu. Phân tích đa quy mô cho phép tương quan giữa các công cụ và phương thức hình ảnh khác nhau như X-quang microCT, DualBeam, Laser PFIB, SEM và TEM.

Tự động hóa quy trình phân tích hạt

Quy trình phân tích hạt nano tự động (APW) là quy trình làm việc bằng kính hiển vi điện tử truyền qua để phân tích hạt nano, cung cấp hình ảnh diện rộng, độ phân giải cao và thu thập dữ liệu ở cấp độ nano, với khả năng xử lý nhanh chóng.