Talos F200S G2 – Kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM)

Kính hiển vi TEM năng suất cao, mô tả đặc tính TEM và STEM có độ phân giải cao bằng định lượng hóa học.

Kính hiển vi điện tử truyền qua Talos F200S G2

Thermo Scientific Talos F200S (S)TEM là kính hiển vi điện tử truyền qua (quét) kết hợp hình ảnh STEM và TEM có độ phân giải cao vượt trội với quang phổ tia X phân tán năng lượng (EDS) hàng đầu trong ngành. Talos F200S (S)TEM có tính linh hoạt cao và thông lượng cao trong hình ảnh STEM, đồng thời cho phép phân tích EDS chính xác và TEM (HRTEM) độ phân giải cao cho kính hiển vi động.

Ưu điểm của Kính hiển vi điện tử truyền qua Talos F200S G2

Thermo Scientific Talos F200S 200kV (S)TEM kết hợp hình ảnh TEM nhanh, đa kênh, độ phân giải cao (S) và phân tích thành phần chính xác để hỗ trợ các ứng dụng kính hiển vi động. Với các tính năng cải tiến được thiết kế để tăng thông lượng, độ chính xác và dễ sử dụng, Talos (S)TEM lý tưởng cho nghiên cứu và phân tích nâng cao trong các môi trường nghiên cứu học thuật và công nghiệp.

Độ phân giải dòng HRTEM
  • 0,10
HRSTEM [nm]
  • 0,16
Tổng chùm tia hiện tại FEG
  • >150 nA
Hệ thống EDS
  • 2 SDD thiết kế không cửa sổ, có cửa chớp bảo vệ
Độ phân giải năng lượng EDS
  • 136 eV đối với Mn-Kα và 10 kcps (đầu ra)
Ánh xạ EDS nhanh
  • Thời gian dừng pixel giảm xuống còn 10 μs
Đo góc rắn EDS
  • 0,45 giây

Phần mềm trực quan

Có Phần mềm Thermo Scientific Velox để thu thập và phân tích dữ liệu đa phương thức nhanh chóng và dễ dàng.

Dữ liệu thành phần hóa học chính xác

Phân tích EDS nhanh chóng, chính xác, định lượng bằng cách sử dụng hai Máy dò Super-X Thermo Scientific SDD trong cột với độ sạch độc đáo, hiển thị các chi tiết ở cấp độ nano.

Dữ liệu hình ảnh tốt hơn

Hình ảnh TEM thông lượng cao (S) có khả năng phát hiện nhiều tín hiệu đồng thời mang lại độ tương phản tốt hơn cho hình ảnh chất lượng cao.

Nâng cấp

Có thể được nâng cấp lên Thermo Scientific Talos F200X (S)TEM.

Tăng tính ổn định

Giảm độ nhạy môi trường nhờ vỏ thiết bị, giúp điều tiết tác động của sóng áp suất không khí, luồng không khí và sự thay đổi nhiệt độ nhỏ trong phòng TEM.

Tối ưu không gian

Thêm giá đỡ mẫu tại chỗ dành riêng cho ứng dụng cho các thử nghiệm động.

  • Kiểm soát quá trình bằng kính hiển vi điện tử
  • Kiểm soát chất lượng và phân tích lỗi
  • Nghiên cứu vật liệu cơ bản

Quang phổ tán sắc năng lượng

Quang phổ tán sắc năng lượng (EDS) thu thập thông tin nguyên tố chi tiết cùng với hình ảnh kính hiển vi điện tử, cung cấp bối cảnh thành phần quan trọng cho các quan sát EM. Với EDS, thành phần hóa học có thể được xác định từ việc quét bề mặt nhanh chóng, toàn diện đến từng nguyên tử.

Chụp cắt lớp 3D EDS

Nghiên cứu vật liệu hiện đại ngày càng phụ thuộc vào phân tích ba chiều ở cấp độ nano. Có thể mô tả đặc tính 3D, bao gồm dữ liệu thành phần cho bối cảnh hóa học và cấu trúc đầy đủ bằng phương pháp quang phổ tia X 3D EM và phân tán năng lượng.

Phân tích nguyên tố EDS

Phần mềm lập bản đồ nguyên tố hiện tượng nhiệt khoa học cung cấp thông tin nhanh chóng và đáng tin cậy về sự phân bố các nguyên tố hóa học trong mẫu.

EDS độ phân giải nguyên tử

EDS có độ phân giải nguyên tử cung cấp bối cảnh hóa học tối ưu cho việc phân tích vật liệu bằng cách phân biệt danh tính nguyên tố của từng nguyên tử. Khi kết hợp với TEM độ phân giải cao, có thể quan sát chính xác tổ chức của các nguyên tử trong mẫu.

Phổ tổn hao năng lượng điện tử (EELS)

Nghiên cứu khoa học vật liệu được hưởng lợi từ EELS có độ phân giải cao cho nhiều ứng dụng phân tích. Điều này bao gồm ánh xạ nguyên tố có thông lượng cao, tỷ lệ tín hiệu trên nhiễu cao, cũng như thăm dò các trạng thái oxy hóa và phonon bề mặt.

Thử nghiệm in situ

Cần phải quan sát trực tiếp, theo thời gian thực các thay đổi cấu trúc vi mô bằng kính hiển vi điện tử để hiểu các nguyên tắc cơ bản của các quá trình động như kết tinh lại, phát triển hạt và chuyển pha trong quá trình gia nhiệt, làm lạnh hoặc thấm ướt

Phân tích hạt

Phân tích hạt đóng một vai trò quan trọng trong nghiên cứu vật liệu nano và kiểm soát chất lượng. Độ phân giải ở quy mô nanomet và hình ảnh vượt trội của kính hiển vi điện tử có thể được kết hợp với phần mềm chuyên dụng để xác định nhanh đặc tính của bột và hạt.

Phân tích đa quy mô

Các vật liệu mới phải được phân tích ở độ phân giải cao hơn trong khi vẫn giữ được lượng lớn hơn của mẫu. Phân tích đa quy mô cho phép tương quan giữa các công cụ và phương thức hình ảnh khác nhau như X-quang microCT, DualBeam, Laser PFIB, SEM và TEM.

Tự động hóa quy trình phân tích hạt

Quy trình phân tích hạt nano tự động (APW) là quy trình làm việc bằng kính hiển vi điện tử truyền qua để phân tích hạt nano, cung cấp hình ảnh diện rộng, độ phân giải cao và thu thập dữ liệu ở cấp độ nano, với khả năng xử lý nhanh chóng.