Kính hiển vi điện tử truyền qua Talos F200C
Thermo Scientific Talos F200C TEM là kính hiển vi điện tử truyền qua nhiệt (quét) 20-200 kV được thiết kế độc đáo để mang lại hiệu suất và năng suất trên nhiều loại mẫu và ứng dụng, chẳng hạn như hình ảnh 2D và 3D của tế bào, bào quan, amiăng, polyme và vật liệu mềm, cả ở nhiệt độ môi trường xung quanh và nhiệt độ lạnh.
Nó nâng cao chất lượng hình ảnh của các vật liệu nhạy với chùm tia bằng kỹ thuật liều thấp và mạch lạnh có thể thu vào, có động cơ, tùy chọn. Ngoài ra, máy dò quang phổ tán sắc năng lượng (EDS) có thể được thêm vào cấu hình để cho phép phân tích hóa học. Khe hở C-Twin lớn, mang lại tính linh hoạt ứng dụng cao, kết hợp với cột điện tử có khả năng tái tạo, mở ra những cơ hội mới cho mô tả đặc tính 3D có độ phân giải cao, quan sát động tại chỗ và các ứng dụng nhiễu xạ, đặc biệt nhấn mạnh vào độ tương phản cao hình ảnh và cryo-TEM. Talos F200C TEM được trang bị Camera Thermo Scientific Ceta 16M tốc độ 4k × 4k, cung cấp trường nhìn rộng và chụp ảnh nhanh, với độ nhạy cao, trên nền tảng 64 bit.
Phần mềm Bản đồ Khoa học Nhiệt cho phép điều hướng dựa trên hình ảnh trực quan trên toàn bộ mẫu và dễ dàng tương quan các kết quả trên các nền tảng hình ảnh. Để truy xuất hình ảnh diện rộng ở độ phân giải cao, Phần mềm Bản đồ sẽ tự động thu thập và ghép các hình ảnh để ghi lại toàn bộ khu vực quan tâm với chất lượng vượt trội. Phần mềm Bản đồ có thể được sử dụng trên các công cụ và trong công cụ. Nó hỗ trợ nhập hình ảnh, lớp phủ và căn chỉnh từ các kính hiển vi khác, chẳng hạn như SEM và kính hiển vi ánh sáng. Điều này cho phép thu phóng kỹ thuật số từ TEM và/hoặc SEM có độ phóng đại thấp tương ứng đến TEM (HRTEM) có độ phân giải cao.
Hình ảnh vượt trội
Hình ảnh TEM và STEM có độ tương phản cao, chất lượng cao với khả năng phát hiện nhiều tín hiệu đồng thời với bộ dò STEM tích hợp lên đến bốn kênh.
Tự động căn chỉnh
Tất cả các điều chỉnh TEM hàng ngày, chẳng hạn như tiêu cự, độ cao tâm tâm, dịch chuyển chùm tia trung tâm, khẩu độ tụ quang trung tâm và tâm xoay đều được tự động hóa.
Cải thiện năng suất và khả năng tái sản xuất
Cột ổn định và vận hành từ xa với SmartCam và thấu kính vật kính có công suất không đổi cho chế độ nhanh và công tắc HT. Chuyển đổi nhanh chóng, dễ dàng cho môi trường nhiều người dùng.
Dữ liệu thành phần hóa học
Phân tích EDS linh hoạt phân tích thông tin hóa học.
Tối ưu không gian
Khoảng cách mảnh cực phân tích lớn, phạm vi nghiêng bàn soi 180° và phạm vi z lớn cho phép thêm giá đỡ chụp cắt lớp, giá đỡ mẫu tại chỗ, v.v.
Máy ảnh Ceta CMOS
Trường nhìn rộng của Camera CMOS 4k × 4K Ceta cho phép thu phóng kỹ thuật số trực tiếp với độ nhạy cao và tốc độ cao trên toàn bộ phạm vi cường độ cao.
Quang phổ tán sắc năng lượng
Quang phổ tán sắc năng lượng (EDS) thu thập thông tin nguyên tố chi tiết cùng với hình ảnh kính hiển vi điện tử, cung cấp bối cảnh thành phần quan trọng cho các quan sát EM. Với EDS, thành phần hóa học có thể được xác định từ việc quét bề mặt nhanh chóng, toàn diện đến từng nguyên tử.
Chụp cắt lớp 3D EDS
Nghiên cứu vật liệu hiện đại ngày càng phụ thuộc vào phân tích ba chiều ở cấp độ nano. Có thể mô tả đặc tính 3D, bao gồm dữ liệu thành phần cho bối cảnh hóa học và cấu trúc đầy đủ bằng phương pháp quang phổ tia X 3D EM và phân tán năng lượng.
Phân tích nguyên tố EDS
Phần mềm lập bản đồ nguyên tố hiện tượng nhiệt khoa học cung cấp thông tin nhanh chóng và đáng tin cậy về sự phân bố các nguyên tố hóa học trong mẫu.
EDS độ phân giải nguyên tử
EDS có độ phân giải nguyên tử cung cấp bối cảnh hóa học tối ưu cho việc phân tích vật liệu bằng cách phân biệt danh tính nguyên tố của từng nguyên tử. Khi kết hợp với TEM độ phân giải cao, có thể quan sát chính xác tổ chức của các nguyên tử trong mẫu.
Phổ tổn hao năng lượng điện tử (EELS)
Nghiên cứu khoa học vật liệu được hưởng lợi từ EELS có độ phân giải cao cho nhiều ứng dụng phân tích. Điều này bao gồm ánh xạ nguyên tố có thông lượng cao, tỷ lệ tín hiệu trên nhiễu cao, cũng như thăm dò các trạng thái oxy hóa và phonon bề mặt.
Thử nghiệm in situ
Cần phải quan sát trực tiếp, theo thời gian thực các thay đổi cấu trúc vi mô bằng kính hiển vi điện tử để hiểu các nguyên tắc cơ bản của các quá trình động như kết tinh lại, phát triển hạt và chuyển pha trong quá trình gia nhiệt, làm lạnh hoặc thấm ướt
Phân tích hạt
Phân tích hạt đóng một vai trò quan trọng trong nghiên cứu vật liệu nano và kiểm soát chất lượng. Độ phân giải ở quy mô nanomet và hình ảnh vượt trội của kính hiển vi điện tử có thể được kết hợp với phần mềm chuyên dụng để xác định nhanh đặc tính của bột và hạt.
Phân tích đa quy mô
Các vật liệu mới phải được phân tích ở độ phân giải cao hơn trong khi vẫn giữ được lượng lớn hơn của mẫu. Phân tích đa quy mô cho phép tương quan giữa các công cụ và phương thức hình ảnh khác nhau như X-quang microCT, DualBeam, Laser PFIB, SEM và TEM.
Tự động hóa quy trình phân tích hạt
Quy trình phân tích hạt nano tự động (APW) là quy trình làm việc bằng kính hiển vi điện tử truyền qua để phân tích hạt nano, cung cấp hình ảnh diện rộng, độ phân giải cao và thu thập dữ liệu ở cấp độ nano, với khả năng xử lý nhanh chóng.
EN