Phenom ParticleX Steel Desktop SEM – Kính hiển vi điện tử để bàn

Thiết bị SEM để bàn cho phép sản xuất thép chất lượng cao thông qua phân tích lỗi và cải tiến quy trình.

Kính hiển vi phân tích thép

Các nhà luyện kim và nhà nghiên cứu trong sản xuất thép cần dữ liệu từ kính hiển vi điện tử quét (SEM) và dữ liệu phổ tán xạ năng lượng tia X (EDS) để phân tích lỗi và cải tiến quy trình. Thermo Scientific Phenom ParticleX Steel Desktop SEM là hệ thống SEM để bàn đa năng cho phép phân tích lỗi và mô tả đặc tính tự động của các tạp chất phi kim loại trong thép.

Phân tích tạp chất thép

Giải pháp linh hoạt này để chụp ảnh chất lượng cao và phân tích nguyên tố của các mẫu thép cung cấp dữ liệu cần thiết cho việc sản xuất thép có giá trị cao một cách hiệu quả ngày nay. Phân tích nhanh chóng, dễ dàng cho phép bạn phản hồi nhanh chóng các lỗi, hỏng hóc, v.v., và hệ thống tự động mang lại khả năng phân tích thép tối ưu.

Độ phóng đại quang học điện tử
  • 160 – 200.000x
Độ phóng đại quang học ánh sáng
  • 3–16x
Độ phân giải
  • <10nm
Tùy chọn độ phân giải hình ảnh
  • 960×600, 1920×1200, 3840×2400, 7680×4800 pixel
Điện áp gia tốc
  • Mặc định: 5 kV, 10 kV và 15 kV
  • Chế độ nâng cao: phạm vi điều chỉnh giữa chế độ phân tích và hình ảnh 4,8 kV và 20,5 kV
Mức độ chân không
  • Thấp trung bình cao
Máy dò
  • Máy dò điện tử tán xạ ngược (tiêu chuẩn)
  • Máy dò EDS (tiêu chuẩn)
  • Máy dò điện tử thứ cấp (tùy chọn)
Kích thước mẫu
  • Tối đa. 100×100 mm (tối đa 36 x 12 mm pin stubs)
  • Tối đa. Chiều cao 40 mm (tùy chọn lên tới 65 mm)
Thời gian tải mẫu
  • Quang học ánh sáng <5 giây 
  • Quang điện tử <60 s

Diện tích nhỏ

Phenom ParticleX Steel Desktop SEM chỉ cần nguồn điện tiêu chuẩn trên tường, cho phép nó mở rộng khả năng của các phòng thí nghiệm phân tích mà không cần thay đổi cơ sở hạ tầng. EDS tích hợp cho phép người dùng chỉ cần nhấp và di chuyển để làm việc với ánh xạ phần tử và quét đường, hiển thị sự phân bố phần tử đã được định lượng trong biểu đồ đường.

Dễ sử dụng

Giao diện người dùng dựa trên công nghệ dễ sử dụng đã được chứng minh được áp dụng trong Phenom Desktop SEM thành công. Giao diện cho phép cả khách hàng hiện tại và khách hàng mới nhanh chóng làm quen với hệ thống mà không cần đào tạo nhiều. Độ sáng cao của nguồn CeB6 độc đáo hỗ trợ thu được chi tiết hình ảnh cao cũng như phân tích tự động nhanh chóng các tạp chất thép.

Tối ưu nhất

Mặc dù các quy tắc phân loại và công thức phân tích mặc định cho phép người dùng nhanh chóng bắt đầu với phân tích bao gồm thép, nhưng việc phân loại và công thức phân tích hoàn toàn có thể tùy chỉnh.

Phần mềm phân tích tạp chất thép

Dựa trên nhiều năm kinh nghiệm trong phân tích tạp chất thép, các quy tắc phân loại mặc định và công thức phân tích cho phép người dùng nhanh chóng nắm bắt được dữ liệu có giá trị.

Kiểm soát quá trình bằng kính hiển vi điện tử

Ngành công nghiệp hiện đại đòi hỏi năng suất cao với chất lượng vượt trội, sự cân bằng được duy trì thông qua kiểm soát quy trình mạnh mẽ. Các công cụ SEM và TEM với phần mềm tự động hóa chuyên dụng cung cấp thông tin nhanh chóng, đa quy mô để theo dõi và cải tiến quy trình.

Kiểm soát chất lượng và phân tích lỗi

Kiểm soát và đảm bảo chất lượng là rất cần thiết trong ngành công nghiệp hiện đại. Thermo Fisher cung cấp các thiết bị EM và quang phổ để phân tích các lỗi ở nhiều quy mô và đa phương thức, cho phép bạn đưa ra các quyết định đáng tin cậy và sáng suốt để kiểm soát và cải tiến quy trình.

Đặc tính vật liệu 3D

Việc phát triển vật liệu thường đòi hỏi phải mô tả đặc tính 3D ở nhiều quy mô. Thiết bị DualBeam cho phép phân chia khối lượng lớn và tạo ảnh SEM tiếp theo ở quy mô nanomet, có thể được xử lý thành bản tái tạo 3D chất lượng cao của mẫu.

Phân tích nguyên tố EDS

Phần mềm lập bản đồ nguyên tố hiện tượng nhiệt khoa học cung cấp thông tin nhanh chóng và đáng tin cậy về sự phân bố các nguyên tố hóa học trong mẫu.

Chụp cắt lớp 3D EDS

Nghiên cứu vật liệu hiện đại ngày càng phụ thuộc vào phân tích ba chiều ở cấp độ nano. Có thể mô tả đặc tính 3D, bao gồm dữ liệu thành phần cho bối cảnh hóa học và cấu trúc đầy đủ bằng phương pháp quang phổ tia X 3D EM và phân tán năng lượng.

Bản đồ nguyên tố ở quy mô nguyên tử bằng EDS

EDS có độ phân giải nguyên tử cung cấp bối cảnh hóa học vượt trội cho việc phân tích vật liệu bằng cách phân biệt các nguyên tố của từng nguyên tử. Khi kết hợp với TEM độ phân giải cao, có thể quan sát chính xác cấu trúc của các nguyên tử trong mẫu.