Phenom ParticleX TC Desktop SEM – Kính hiển vi điện tử để bàn

Phân tích độ sạch của thành phần bằng hệ thống SEM để bàn đa năng.

Phân tích độ sạch thành phần

Thermo Scientific Phenom ParticleX TC Desktop SEM là SEM để bàn đa năng cho phép làm sạch kỹ thuật ở cấp độ vi mô.

Đặc tính vật liệu

Một giải pháp linh hoạt để phân tích nội bộ, chất lượng cao, Phenom ParticleX Desktop SEM mang đến cho bạn khả năng thực hiện mô tả đặc tính, xác minh và phân loại vật liệu nhanh chóng, hỗ trợ quá trình sản xuất của bạn với dữ liệu nhanh chóng, chính xác và đáng tin cậy. Hệ thống này vận hành đơn giản và học nhanh, mở ra khả năng phân tích hạt và vật liệu cho nhiều nhóm người dùng hơn.

Quang điện tử
  • Nguồn nhiệt điện có tuổi thọ cao (CeB 6 )
  • Dòng điện nhiều tia
Độ phóng đại quang học điện tử
  • 160 – 200.000x
Độ phóng đại quang học ánh sáng
  • 3–16x
Độ phân giải
  • <10nm
Tùy chọn độ phân giải hình ảnh
  • 960 x 600, 1920 x 1200, 3840 x 2400 và 7680 x 4800 pixel
Điện áp gia tốc
  • Mặc định: 5 kV, 10 kV và 15 kV
  • Chế độ nâng cao: phạm vi điều chỉnh giữa chế độ phân tích và hình ảnh 4,8 kV và 20,5 kV
Mức độ chân không
  • Thấp trung bình cao
Máy dò
  • Máy dò điện tử tán xạ ngược (tiêu chuẩn)
  • Máy dò EDS (tiêu chuẩn)
  • Máy dò điện tử thứ cấp (tùy chọn)
Kích thước mẫu
  • Tối đa. 100 mm x 100 mm (lên tới 36 x 12 mm pin stubs)
  • Tối đa. 40 mm (giờ)
Thời gian tải mẫu
  • Quang học ánh sáng <5 giây 
  • Quang điện tử <60 s

Tính sạch kỹ thuật

Với nhu cầu ngày càng tăng về phân tích các hạt nhỏ hơn ngoài phạm vi kính hiển vi ánh sáng trong các ngành công nghiệp (ô tô), SEM để bàn Phenom ParticleX TC (Tính sạch kỹ thuật) cho phép kính hiển vi điện tử quét tự động với phổ tán xạ năng lượng tia X (EDS) . Đây là một lợi thế lớn so với kính hiển vi ánh sáng vì nó cho phép phân loại hóa học các hạt, cung cấp những phân tích chi tiết về quy trình sản xuất và/hoặc môi trường. Có sẵn các báo cáo tiêu chuẩn tuân thủ VDA 19 / ISO 16232 hoặc ISO 4406/4407.

Máy dò điện tử thứ cấp

Máy dò điện tử thứ cấp (SED) có sẵn tùy chọn trên SEM để bàn Phenom ParticleX TC. SED thu thập các electron năng lượng thấp từ lớp bề mặt trên cùng của mẫu. Do đó, đây là sự lựa chọn hoàn hảo để phân tích thông tin chi tiết về bề mặt mẫu. SED có thể được sử dụng rất nhiều cho các ứng dụng mà địa hình và hình thái học là quan trọng. Điều này thường xảy ra khi nghiên cứu các cấu trúc vi mô, sợi hoặc hạt.

Dễ sử dụng

Giao diện người dùng dựa trên công nghệ dễ sử dụng đã được chứng minh áp dụng trong các sản phẩm SEM để bàn Phenom thành công. Giao diện cho phép cả người dùng hiện tại và người dùng mới nhanh chóng làm quen với hệ thống mà không cần đào tạo nhiều.

Bản đồ nguyên tố và quét dòng

Đối với người dùng, chỉ cần nhấp và bắt đầu làm việc với chức năng quét dòng và bản đồ nguyên tố của SEM để bàn Phenom ParticleX TC. Chức năng quét dòng hiển thị phân bố phần tử đã được định lượng trong biểu đồ đường.

Kiểm soát quá trình bằng kính hiển vi điện tử

Ngành công nghiệp hiện đại đòi hỏi năng suất cao với chất lượng vượt trội, sự cân bằng được duy trì thông qua kiểm soát quy trình mạnh mẽ. Các công cụ SEM và TEM với phần mềm tự động hóa chuyên dụng cung cấp thông tin nhanh chóng, đa quy mô để theo dõi và cải tiến quy trình.

Kiểm soát chất lượng và phân tích lỗi

Kiểm soát và đảm bảo chất lượng là rất cần thiết trong ngành công nghiệp hiện đại. Thermo Fisher cung cấp một loạt các công cụ EM và quang phổ để phân tích lỗi ở nhiều quy mô và đa phương thức, cho phép đưa ra các quyết định đáng tin cậy và sáng suốt để kiểm soát và cải tiến quy trình.

Nghiên cứu vật liệu cơ bản

Các vật liệu mới được nghiên cứu ở quy mô ngày càng nhỏ hơn để kiểm soát tối đa các tính chất vật lý và hóa học của chúng. Kính hiển vi điện tử cung cấp cho các nhà nghiên cứu cái nhìn sâu sắc về nhiều đặc tính vật liệu ở quy mô vi mô đến nano.

Phân tích tính sạch kỹ thuật

Sản xuất hiện đại đòi hỏi các thành phần chất lượng, đáng tin cậy. Với kính hiển vi điện tử quét, việc phân tích độ sạch của các bộ phận có thể được thực hiện ngay trong nhà, cung cấp cho bạn nhiều dữ liệu phân tích và rút ngắn chu kỳ sản xuất.

Phân tích nguyên tố EDS

Phần mềm lập bản đồ nguyên tố hiện tượng nhiệt khoa học cung cấp thông tin nhanh chóng và đáng tin cậy về sự phân bố các nguyên tố hóa học trong mẫu.

Chụp cắt lớp 3D EDS

Nghiên cứu vật liệu hiện đại ngày càng phụ thuộc vào phân tích ba chiều ở cấp độ nano. Có thể mô tả đặc tính 3D, bao gồm dữ liệu thành phần cho bối cảnh hóa học và cấu trúc đầy đủ bằng phương pháp quang phổ tia X 3D EM và phân tán năng lượng.

Bản đồ nguyên tố ở quy mô nguyên tử bằng EDS

EDS có độ phân giải nguyên tử cung cấp bối cảnh hóa học vượt trội cho việc phân tích vật liệu bằng cách phân biệt các nguyên tố của từng nguyên tử. Khi kết hợp với TEM độ phân giải cao, có thể quan sát chính xác cấu trúc của các nguyên tử trong mẫu.

Phân tích hạt

Phân tích hạt đóng một vai trò quan trọng trong nghiên cứu vật liệu nano và kiểm soát chất lượng. Độ phân giải ở quy mô nanomet và hình ảnh vượt trội