Phenom ParticleX Battery Desktop SEM – Kính hiển vi điện tử để bàn

Kính hiển vi điện tử quét để bàn dùng cho sản xuất và nghiên cứu pin.

Phân tích vật liệu pin nâng cao

Trong nghiên cứu và sản xuất pin, chất lượng vật liệu ngày càng trở nên quan trọng. Ví dụ, các chất gây ô nhiễm nhỏ trong bột NCM có thể gây ra hậu quả tai hại cho sản phẩm cuối cùng. Để theo dõi các chất gây ô nhiễm này một cách hiệu quả, cần có hình ảnh SEM độ phân giải cao với phân tích EDS cho hóa học. Khi hoàn toàn tự động, sự kết hợp này là một công cụ mạnh mẽ để kiểm tra chất lượng bột.

Quang điện tử
  • Nguồn nhiệt điện có tuổi thọ cao (CeB6 )
  • Dòng điện nhiều tia
Phạm vi phóng đại của kính hiển vi điện tử
  • 160 đến 200,000x
Độ phóng đại quang học
  • 3 đến 16x
Độ phân giải
  • <10 nm
Tùy chọn độ phân giải hình ảnh
  • 960 x 600, 1920 x 1200, 3840 x 2400 and 7680 x 4800 pixels
Điện áp gia tốc
  • Mặc định: 5 kV, 10 kV và 15 kV
  • Chế độ nâng cao: phạm vi điều chỉnh giữa chế độ phân tích và hình ảnh 4,8 kV và 20,5 kV
Mức chân không
  • Thấp, Trung bình, Cao
Máy dò
  • Máy dò điện tử tán xạ ngược (tiêu chuẩn)
  • Máy dò phổ tán sắc năng lượng tia X (EDS) (tiêu chuẩn)
  • Máy dò điện tử thứ cấp (tùy chọn)
Kích thước mẫu
  • Tối đa 100 mm x 100 mm (lên đến 36 x 12 mm pin stubs)
  • Tối đa 40 mm (h)
Thời gian tải mẫu
  • Quang học ánh sáng <5 s
  • Quang học điện tử <60 s

Phân loại độ dẫn điện

Mỗi lớp hạt có thể được dán nhãn độ dẫn của các hạt, cho phép sắp xếp độ dẫn của các hạt, đánh giá tác động của ô nhiễm chính xác hơn nhiều vì ô nhiễm hữu cơ nhỏ không nghiêm trọng như ô nhiễm dẫn điện bằng kim loại.

Sơ đồ bậc ba

Để xem thành phần hóa học tổng thể của quần thể hạt, có thể tạo sơ đồ bậc ba trong đó tất cả các hạt được biểu diễn. Với Ni, Co và Mn trên mỗi trục, có thể nhìn thấy ngay lập tức các năm và xu hướng chung.

Kiểm soát quá trình bằng kính hiển vi điện tử

Ngành công nghiệp hiện đại đòi hỏi năng suất cao với chất lượng vượt trội, sự cân bằng được duy trì thông qua kiểm soát quy trình mạnh mẽ. Các công cụ SEM và TEM với phần mềm tự động hóa chuyên dụng cung cấp thông tin nhanh chóng, đa quy mô để theo dõi và cải tiến quy trình.

Kiểm soát chất lượng và phân tích lỗi

Kiểm soát và đảm bảo chất lượng là rất cần thiết trong ngành công nghiệp hiện đại. Thermo Fisher cung cấp một loạt các công cụ EM và quang phổ để phân tích lỗi ở nhiều quy mô và đa phương thức, cho phép đưa ra các quyết định đáng tin cậy và sáng suốt để kiểm soát và cải tiến quy trình.

Nghiên cứu vật liệu cơ bản

Các vật liệu mới được nghiên cứu ở quy mô ngày càng nhỏ hơn để kiểm soát tối đa các tính chất vật lý và hóa học của chúng. Kính hiển vi điện tử cung cấp cho các nhà nghiên cứu cái nhìn sâu sắc về nhiều đặc tính vật liệu ở quy mô vi mô đến nano.

Phân tích tính sạch kỹ thuật

Sản xuất hiện đại đòi hỏi các thành phần chất lượng, đáng tin cậy. Với kính hiển vi điện tử quét, việc phân tích độ sạch của các bộ phận có thể được thực hiện ngay trong nhà, cung cấp cho bạn nhiều dữ liệu phân tích và rút ngắn chu kỳ sản xuất.

Phân tích nguyên tố EDS

Phần mềm lập bản đồ nguyên tố hiện tượng nhiệt khoa học cung cấp thông tin nhanh chóng và đáng tin cậy về sự phân bố các nguyên tố hóa học trong mẫu.

Chụp cắt lớp 3D EDS

Nghiên cứu vật liệu hiện đại ngày càng phụ thuộc vào phân tích ba chiều ở cấp độ nano. Có thể mô tả đặc tính 3D, bao gồm dữ liệu thành phần cho bối cảnh hóa học và cấu trúc đầy đủ bằng phương pháp quang phổ tia X 3D EM và phân tán năng lượng.

Bản đồ nguyên tố ở quy mô nguyên tử bằng EDS

EDS có độ phân giải nguyên tử cung cấp bối cảnh hóa học vượt trội cho việc phân tích vật liệu bằng cách phân biệt các nguyên tố của từng nguyên tử. Khi kết hợp với TEM độ phân giải cao, có thể quan sát chính xác cấu trúc của các nguyên tử trong mẫu.

Phân tích hạt

Phân tích hạt đóng một vai trò quan trọng trong nghiên cứu vật liệu nano và kiểm soát chất lượng. Độ phân giải ở quy mô nanomet và hình ảnh vượt trội của kính hiển vi điện tử có thể được kết hợp với phần mềm chuyên dụng để xác định nhanh đặc tính của bột và hạt.