Phenom XL G2 Desktop SEM – Kính hiển vi điện tử để bàn

SEM để bàn với kích thước buồng cho các mẫu lớn lên tới 100 mm x 100 mm.

Ứng dụng Phenom XL G2 Desktop SEM

Dòng Phenom XL G2 – kính hiển vi điện tử quét để bàn (SEM) Thermo Scientific thế hệ tiếp theo tự động hóa quy trình kiểm soát chất lượng, cung cấp kết quả chính xác, có thể lặp lại đồng thời giải phóng thời gian cho công việc có giá trị gia tăng.

Phenom XL G2 cho phép:

  • Có được thông tin chất lượng bạn cần để phát hiện sớm các lỗi và nhanh chóng điều chỉnh quy trình sản xuất khi cần.
  • Tự động hóa kiểm soát chất lượng để xử lý khối lượng lớn mẫu với ít khả năng xảy ra lỗi của con người hơn.
  • Tăng tốc nhanh chóng với giao diện hoàn toàn mới, dễ học, lý tưởng cho nhiều ứng dụng.

Phenom XL G2 Desktop SEM có hình ảnh toàn màn hình và thời gian tạo ảnh trung bình là 60 giây. Nguồn điện tử CeB6 độc đáo mang lại tuổi thọ lâu dài và ít phải bảo trì hơn. Kiểu dáng nhỏ gọn giúp tối ưu không gian trong phòng thí nghiệm.

SEM để bàn tương thích với Phenom XL G2 Argon

Kính hiển vi điện tử quét để bàn (SEM) tương thích với Thermo Scientific Phenom XL G2 tự động hóa quy trình làm việc đồng thời cung cấp môi trường ổn định, không phản ứng cho nghiên cứu mẫu phản ứng.

SEM để bàn tương thích Phenom XL G2 Argon cung cấp:

  • Một môi trường không phản ứng để tiến hành nghiên cứu mẫu phản ứng trên các mẫu như pin lithium trạng thái rắn
  • Một phương thức mà bạn có thể chuẩn bị mẫu và phân tích SEM/EDX trong cùng một không gian làm việc
  • Một cách an toàn hơn để tiếp xúc với các mẫu có độ bay hơi cao như lithium thể rắn, tạo điều kiện cho thế hệ pin tiếp theo có tuổi thọ cao hơn, thân thiện với môi trường

SEM để bàn tương thích Argon XL G2 có thời gian tạo ảnh tương tự 60 giây như Phenom XL G2 SEM, đồng thời có thể đặt đặt trong buồng thao tác cách ly khí argon, đảm bảo phân tích an toàn lithium trạng thái rắn.

Quang điện tử
  • Nguồn nhiệt điện có tuổi thọ cao (CeB6 )
  • Dòng điện nhiều tia
Phạm vi phóng đại của kính hiển vi điện tử
  • 160 – 200,000x
Độ phóng đại quang học
  • 3–16x
Độ phân giải
  • <10 nm
Tùy chọn độ phân giải hình ảnh
  • 960 x 600, 1920 x 1200, 3840 x 2400 and 7680 x 4800 pixels
Điện áp gia tốc
  • Mặc định: 5 kV, 10 kV và 15 kV
  • Chế độ nâng cao: phạm vi điều chỉnh giữa chế độ phân tích và hình ảnh 4,8 kV và 20,5 kV
Chế độ chân không
  • Thấp – Trung bình – Cao
Máy dò
  • Máy dò điện tử tán xạ ngược (tiêu chuẩn)
  • Máy dò điện tử thứ cấp (tùy chọn)
  • Máy dò phổ tán sắc năng lượng tia X (EDS) (tùy chọn)
Kích thước mẫu
  • Tối đa 100 mm x 100 mm (lên đến 36 x 12 mm pin stubs)
  • Tối đa 40 mm (h)
Thời gian tải mẫu
  • Quang học ánh sáng <5 s
  • Quang điện tử <60 s

Tự động

SEM để bàn Phenom XL G2 có thể truy cập tiêu chuẩn thông qua Giao diện lập trình Phenom (PPI), một phương pháp mạnh mẽ để điều khiển thông qua tập lệnh Python. Nếu người dùng có quy trình làm việc SEM với công việc lặp đi lặp lại để phân tích các hạt, khe hở, sợi hoặc hình ảnh SEM lớn thì thiết bị có thể thực hiện việc đó một cách tự động.

Nguồn CeB₆ tuổi thọ cao

Nguồn CeB₆ (xerium hexaboride) tuổi thọ cao có một số ưu điểm như độ sáng cao mà nó mang lại so với vonfram, giúp nhiều người dùng dễ dàng có được hình ảnh chất lượng cao với nhiều chi tiết hơn và việc bảo trì được thực hiện định kỳ

Giá đỡ mẫu lệch tâm

Trong nhiều ứng dụng SEM, người dùng có thể hiểu rõ hơn về các đặc tính của mẫu nếu mẫu có thể nghiêng và xoay. Giá đỡ mẫu lệch tâm tùy chọn cho phép nghiêng và xoay lệch tâm, giúp cho việc nghiên cứu và phân tích nhanh hơn và chính xác hơn.

Nhận dạng nguyên tố (EID)

Phenom XL G2 được trang bị đầu dò phổ xạ năng lượng phân tán tia X (EDS) tùy chọn để thu được nhiều thông tin chi tiết hơn về vật liệu bằng nhận dạng nguyên tố thông qua phân tích tia X.

Thu thập dữ liệu từng bước

Gói phần mềm chuyên dụng nhận dạng nguyên tố (EID) được sử dụng để điều khiển máy dò EDS tích hợp đầy đủ. Quy trình từng bước trực quan trong phần mềm EID giúp người dùng thu thập tất cả các kết quả X-ray một cách có tổ chức.

Chuẩn bị và phân tích SEM/EDX trong cùng một không gian làm việc

Khi được đặt trong buồng thao tác cách ly khí argon, thiết lập SEM để bàn cho phép nghiên cứu về pin lithium trạng thái rắn vì nó làm giảm nguy cơ biến động mẫu hoặc suy giảm mẫu do quá trình oxy hóa lithium.

Tích hợp đảm bảo

SEM để bàn này giúp bạn duy trì tính toàn vẹn của mẫu bằng cách loại bỏ nhu cầu di chuyển mẫu sang các thiết bị khác nhau, tiết kiệm thời gian và tài nguyên

Phân tích pin lithium an toàn

Giải pháp này cho phép bạn nghiên cứu pin lithium thể rắn một cách an toàn, tạo ra pin lithium có tuổi thọ cao hơn, thân thiện với môi trường và linh hoạt hơn.

Độ tương thích phòng khô

Hệ thống này đã được thử nghiệm và phê duyệt để hoạt động trong môi trường phòng khô với nhiệt độ thấp tới -65 độ C.

Kiểm soát quá trình bằng kính hiển vi điện tử

Ngành công nghiệp hiện đại đòi hỏi năng suất cao với chất lượng vượt trội, sự cân bằng được duy trì thông qua kiểm soát quy trình mạnh mẽ. Các công cụ SEM và TEM với phần mềm tự động hóa chuyên dụng cung cấp thông tin nhanh chóng, đa quy mô để theo dõi và cải tiến quy trình.

Kiểm soát chất lượng và phân tích lỗi

Kiểm soát và đảm bảo chất lượng là rất cần thiết trong ngành công nghiệp hiện đại. Thermo Fisher cung cấp một loạt các công cụ EM và quang phổ để phân tích lỗi ở nhiều quy mô và đa phương thức, cho phép đưa ra các quyết định đáng tin cậy và sáng suốt để kiểm soát và cải tiến quy trình.

Nghiên cứu vật liệu cơ bản

Các vật liệu mới được nghiên cứu ở quy mô ngày càng nhỏ hơn để kiểm soát tối đa các tính chất vật lý và hóa học của chúng. Kính hiển vi điện tử cung cấp cho các nhà nghiên cứu cái nhìn sâu sắc về nhiều đặc tính vật liệu ở quy mô vi mô đến nano.

Phân tích tính sạch kỹ thuật

Sản xuất hiện đại đòi hỏi các thành phần chất lượng, đáng tin cậy. Với kính hiển vi điện tử quét, việc phân tích độ sạch của các bộ phận có thể được thực hiện ngay trong nhà, cung cấp cho bạn nhiều dữ liệu phân tích và rút ngắn chu kỳ sản xuất.

Phân tích nguyên tố EDS

Phần mềm lập bản đồ nguyên tố hiện tượng nhiệt khoa học cung cấp thông tin nhanh chóng và đáng tin cậy về sự phân bố các nguyên tố hóa học trong mẫu.

Chụp cắt lớp 3D EDS

Nghiên cứu vật liệu hiện đại ngày càng phụ thuộc vào phân tích ba chiều ở cấp độ nano. Có thể mô tả đặc tính 3D, bao gồm dữ liệu thành phần cho bối cảnh hóa học và cấu trúc đầy đủ bằng phương pháp quang phổ tia X 3D EM và phân tán năng lượng.

Bản đồ nguyên tố ở quy mô nguyên tử bằng EDS

EDS có độ phân giải nguyên tử cung cấp bối cảnh hóa học vượt trội cho việc phân tích vật liệu bằng cách phân biệt các nguyên tố của từng nguyên tử. Khi kết hợp với TEM độ phân giải cao, có thể quan sát chính xác cấu trúc của các nguyên tử trong mẫu.

Phân tích đa quy mô

Các vật liệu mới cần được phân tích ở độ phân giải càng cao càng tốt trong khi vẫn giữ nguyên bối cảnh lớn của mẫu. Phân tích đa quy mô cho phép liên kết giữa các công cụ và phương pháp hình ảnh khác nhau như X-ray microCT, DualBeam, Laser PFIB, SEM và TEM