NanoWizard® V thiết lập một tiêu chuẩn mới về tự động hóa, đồng thời mang đến nhiều cải tiến kỹ thuật tiên tiến và trải nghiệm người dùng vượt trội.
- Thế hệ mới nhất với những đổi mới đột phá
- Thành công đã được khẳng định với gần 1000 hệ thống NanoWizard® AFM của JPK/Bruker được lắp đặt trên toàn cầu
- Tối ưu hóa cho độ phân giải cao, quét nhanh và ứng dụng tùy chỉnh nhờ vào công nghệ đầu dò tiên tiến
- Môi trường phần mềm V8 trực quan
- Dễ sử dụng vượt trội
- Lý tưởng cho các trung tâm hình ảnh đa người dùng
Hiệu suất Hoàn hảo và Năng suất Tối đa
NanoWizard® V là công cụ đột phá trong lĩnh vực khoa học nano, kết hợp giữa đổi mới công nghệ với hiệu suất và sự tiện lợi cho người dùng.
Mở ra những khám phá khoa học mới
- Hệ thống quét và phát hiện có độ nhiễu thấp nhất, đảm bảo dữ liệu có độ phân giải cao và hiệu suất vượt trội
- Tốc độ quét cao lên đến 400 dòng/giây
- Lý tưởng để nghiên cứu các quá trình động trong thời gian thực
- Tự động hóa giúp tăng năng suất và tối ưu hóa quy trình
- Hình ảnh nano cơ học có độ phân giải cao với PeakForce-QI™, PeakForce Tapping®, PeakForce QNM và QI
- DirectOverlay giúp tích hợp AFM với kính hiển vi quang học tiên tiến
- Tích hợp ExperimentPlanner và ExperimentControl để thiết kế thí nghiệm linh hoạt
- Phạm vi phụ kiện rộng lớn hỗ trợ kiểm soát môi trường, đo lường điện và nhiều ứng dụng khác
Hiệu suất vượt trội
- Hình ảnh linh hoạt từ mạng tinh thể nguyên tử đến các mẫu kích thước lớn
- Phạm vi phụ kiện mở rộng nhất trong ngành
- Trường quan sát quang học rộng với tính năng ghép ảnh
- Lưu trữ tối ưu các tham số và cài đặt ưa thích
- Giao diện trực quan, dễ sử dụng
- Quy trình phân tích hàng loạt được tiêu chuẩn hóa giúp tạo bộ dữ liệu có ý nghĩa thống kê
- Căn chỉnh tự động đầu dò và hệ thống phát hiện
- Quan sát quá trình động nhanh trong môi trường khắc nghiệt
- Theo dõi các phản ứng trên nhiều thang thời gian, từ mili-giây đến phút
Đặc tính Cơ học Nano Toàn diện
Bruker không ngừng cải tiến khả năng phân tích cơ học nano của AFM, mang đến giải pháp công nghệ dễ dàng cho các nghiên cứu khoa học phức tạp.
NanoWizard® V là giải pháp lý tưởng để định lượng các đặc tính cơ học nano và hiểu vai trò quan trọng của chúng đối với cấu trúc, hình thái và tương tác phân tử.
NanoWizard® V đẩy lùi giới hạn khoa học, mở rộng ứng dụng của công nghệ AFM và giúp việc phân tích cơ học nano trở nên nhanh hơn, dễ dàng hơn, tiếp cận được với nhiều lĩnh vực khoa học hơn.
Khả năng vượt trội
- Quét nhanh, dễ sử dụng, kết hợp hình ảnh địa hình và hình ảnh cơ học nano
- Đặc tính nhớt đàn hồi qua đo lường microrheology
- Cộng hưởng tiếp xúc để đặc tính cơ học của mẫu cứng (>10 GPa)
- Phần mềm RampDesigner mạnh mẽ và trực quan
- Kiểm soát lực nhạy cảm cao, bảo vệ đầu dò
- Quan sát lực theo thời gian thực thực sự
- Kết hợp lập bản đồ cơ học và đặc tính điện trong một lần quét
Chụp ảnh định lượng độc đáo
PeakForce-QI – sự kết hợp hoàn hảo giữa PeakForce Tapping và QI mode – mang đến khả năng hình ảnh cơ học nano định lượng độc đáo. Nó kết hợp tốc độ thu nhận dữ liệu cao với kiểm soát lực tiên tiến để tạo ra hình ảnh đa thông số với độ phân giải cao nhất.
Hệ thống tự động thiết lập, vận hành và hiệu chuẩn giúp người dùng dễ dàng thực hiện thí nghiệm và thu được dữ liệu chất lượng cao một cách nhanh chóng, ngay cả với những người không chuyên.
Phân tích dữ liệu mạnh mẽ
- Xử lý hàng loạt đơn giản, đáng tin cậy
- Tạo hình ảnh địa hình ở các mức lực khác nhau
- Hình ảnh “zero force” (điểm tiếp xúc)
- Xuất dữ liệu từ hàng loạt xử lý theo kênh mong muốn
Tự động hóa và giao diện trực quan
NanoWizard® V được thiết kế để đáp ứng nhu cầu của các nhà khoa học trong nghiên cứu và công nghiệp ngày nay. Các giải pháp phần cứng và phần mềm tiên tiến giúp tăng tốc độ thu nhận dữ liệu, tự động hóa quy trình đo lường và phân tích hàng loạt, giúp các nhà nghiên cứu tập trung vào điều quan trọng nhất – khám phá khoa học.
Mức độ tự động hóa cao nhất
- Căn chỉnh tự động hệ thống phát hiện laser
- Hiệu chuẩn đầu dò tự động
- Tạo ảnh đa vùng tự động với HybridStage hoặc bàn di động
- Lập trình thí nghiệm tự động dễ dàng với ExperimentPlanner
- ExperimentControl giúp theo dõi thí nghiệm từ xa
Giao diện trực quan
- Phần mềm dựa trên quy trình làm việc, dễ sử dụng
- Quản lý người dùng, lý tưởng cho phòng thí nghiệm nhiều người
- Trợ lý phần mềm tích hợp
- Hiệu chuẩn hình ảnh quang học chỉ với một cú nhấp chuột
- Tích hợp camera hỗ trợ căn chỉnh laser
- Xử lý dữ liệu toàn diện
- Lưu trữ tham số và cài đặt yêu thích tiện lợi
Thiết kế linh hoạt
Công nghệ quét đầu dò tiên tiến và thiết kế mô-đun của NanoWizard® V NanoScience AFM giúp nó dễ dàng tích hợp với các kỹ thuật quang học hiện đại.
Phạm vi rộng lớn của các chế độ và phụ kiện nâng cao khiến nó trở thành AFM linh hoạt nhất trên thị trường, cho phép thiết lập thí nghiệm đa dạng và kiểm soát môi trường tối ưu.
Hệ thống phụ kiện toàn diện
- Phụ kiện kiểm soát nhiệt độ (-120 °C đến +300 °C)
- Kính hiển vi nhiệt quét (SThM)
- Kính hiển vi lực từ (MFM)
- Điều khiển thao tác nano
- Kính hiển vi ma sát (Friction Force Microscopy)
- Hình ảnh đa chế độ
- Bàn kéo giãn
- Nhiều loại tế bào dung dịch
(Xem brochure phụ kiện để biết thêm tùy chọn)
Đặc tính điện cao cấp với độ phân giải cao
- AFM dẫn điện (CAFM)
- Kính hiển vi lực Kelvin (KPFM)
- Kính hiển vi lực tĩnh điện (EFM)
- Kính hiển vi lực áp điện (PFM)
- Kính hiển vi quét đường hầm (STM)
- Kính hiển vi điện hóa quét (SECM)
Dành cho các thí nghiệm phức tạp – từ polymer đến tế bào năng lượng mặt trời
- Tùy chọn kiểm soát môi trường tối ưu hóa
- Truy cập quang học đến mẫu, ví dụ để chiếu sáng theo yêu cầu
- Tùy chọn laser phát hiện 980 nm
- Các chế độ đo lường hỗ trợ thí nghiệm dài hạn, không cần giám sát
EN