Kính hiển vi lực nguyên tử Innova® có thiết kế nhỏ gọn, cung cấp tính linh hoạt cao cho các nghiên cứu khoa học yêu cầu khắt khe với chi phí hợp lý. Hệ thống điều khiển quét khép kín (closed-loop scan linearization) độc đáo giúp đảm bảo độ chính xác cao và mức nhiễu tiệm cận với hệ thống vòng mở. Nhờ quang học màu phân giải cao tích hợp, bàn soi mở và phần mềm điều hướng thí nghiệm, quá trình thiết lập thí nghiệm trở nên nhanh chóng và dễ dàng. Với khả năng tùy chỉnh toàn diện, Innova® mang lại giá trị tối ưu cho hình ảnh có độ phân giải cao và nhiều ứng dụng trong khoa học vật lý, sinh học và vật liệu.
Hình ảnh độ phân giải cao tiêu chuẩn
Đảm bảo đo lường chính xác trên mọi kích thước và phạm vi, mang lại độ tin cậy cao cho mỗi thí nghiệm.
Thiết lập nhanh chóng, tối ưu quy trình
Hỗ trợ đặc trưng mẫu nhanh và chính xác, từ khảo sát diện rộng đến hình ảnh có độ phân giải nguyên tử.
Linh hoạt mạnh mẽ cho nghiên cứu chuyên sâu
Cung cấp khả năng tùy chỉnh toàn diện, hỗ trợ đa chế độ SPM cùng truy cập tín hiệu có thể cấu hình, đáp ứng mọi nhu cầu thí nghiệm.
Thiết kế hợp lý
Mọi khía cạnh của thiết kế cơ điện tử Innova đều được tối ưu hóa, từ bàn soi kính hiển vi cứng với vòng lặp cơ học ngắn và độ trôi nhiệt thấp đến thiết bị điện tử có độ ồn cực thấp. Kết quả là sự kết hợp độc đáo giữa hiệu suất độ phân giải cao và định vị vòng kín. Innova sử dụng tuyến tính hóa quét vòng kín kỹ thuật số độ ồn cực thấp độc quyền của Bruker để đo chính xác ở mọi kích thước, bất kể kích thước, độ lệch, tốc độ hoặc độ quay trong không khí và chất lỏng.
Hệ thống quang học Top-Down được cấp bằng sáng chế
Với zoom quang học được điều khiển bằng phần mềm, quang học Innova cung cấp phạm vi phóng đại rộng, cho phép xem trực tiếp phần nhô ra và mẫu với độ phân giải tốt hơn 1 micron để xác định các đặc điểm mẫu nhỏ nhất và đảm bảo định vị đầu dò chính xác. Với quang học được định vị hoàn toàn bên trong nắp bảo vệ dụng cụ, đầu dò và mẫu có thể được xem bất kỳ lúc nào trong khi cách ly dụng cụ khỏi môi trường. Sự tích hợp công thái học của quang học với kính hiển vi cũng góp phần vào sự dễ dàng và chính xác khi thay đầu dò và căn chỉnh laser. Người dùng chỉ cần đặt đầu dò mới vào và xoay quang học trở lại vị trí. Phần nhô ra được căn chỉnh trước sẽ luôn giữ được tiêu điểm.
Bề mặt độ phân giải cao (màu cam) và hình ảnh pha (màu xanh lá) cho thấy sự tách pha vi mô trong đồng trùng hợp ba khối poly(styrene-b-butadiene-b-styrene) (SBS). Dữ liệu thô chưa lọc 1k x 1k. Kích thước hình ảnh: 2 μm. Tuyến tính hóa quét vòng kín đang hoạt động.
Truy cập mẫu dễ dàng
Innova cung cấp khả năng tiếp cận mẫu tối ưu, ngay cả khi đầu kính hiển vi đã ở đúng vị trí, mà không làm giảm độ cứng của thiết kế cơ học. Kiến trúc mở vật lý mang lại tính linh hoạt cao hơn cho các thí nghiệm tùy chỉnh, ví dụ, bằng cách cho phép dễ dàng lắp điện cực để xác định đặc tính mẫu điện và điện hóa.
Quét dữ liệu điện dung của ô DRAM silicon.
Mở rộng ứng dụng với chế độ AFM
Với bộ chế độ hình ảnh vượt trội, Bruker cung cấp các kỹ thuật AFM phù hợp cho mọi nghiên cứu.
Dựa trên nền tảng của các chế độ hình ảnh cốt lõi—Contact Mode và Tapping Mode—Bruker phát triển các chế độ AFM cho phép phân tích tính chất điện, từ tính và cơ học của mẫu. Công nghệ đột phá PeakForce Tapping của Bruker đánh dấu một bước tiến mới trong hình ảnh AFM, tích hợp vào nhiều chế độ để thu thập đồng thời dữ liệu địa hình, tính chất điện và cơ học của vật liệu.
EN