Dimension XR – Kính hiển vi lực nguyên tử

Cấu hình tối ưu cho nghiên cứu chuyên sâu

XR Nanomechanics

Cấu hình XR Nanomechanics cung cấp nhiều chế độ để phát hiện chính xác các cấu trúc nhỏ nhất, đạt độ phân giải không gian đến mức dưới phân tử của chuỗi polymer. Các nhà nghiên cứu có thể liên kết dữ liệu nano cơ học với kỹ thuật DMA số lượng lớn và nano indentation nhờ chế độ AFM-nDMA™ độc quyền. Điều này cho phép đặc trưng nano cơ học có thể định lượng trên nhiều loại vật liệu, từ hydrogel mềm, vật liệu composite đến kim loại cứng và gốm sứ.

XR Nanoelectrical

Cấu hình XR Nanoelectrical tích hợp bộ kỹ thuật AFM điện rộng nhất vào một hệ thống duy nhất. Các nhà nghiên cứu có thể thu thập phổ điện tại từng điểm ảnh, đồng thời liên kết với phép đo cơ học bằng chế độ DataCube độc quyền. Hệ thống này cung cấp cái nhìn chưa từng có từ một phép đo duy nhất, mở ra những khả năng mới trong nghiên cứu vật liệu tiên tiến.

XR Nanoelectrochemical

Cấu hình XR Nanoelectrochemical hỗ trợ kính hiển vi điện hóa quét AFM (AFM-SECM) và AFM điện hóa (EC-AFM). Với độ phân giải không gian <100 nm, hệ thống giúp thu thập thông tin điện hóa chi tiết đồng thời lập bản đồ đặc tính điện hóa, điện và cơ học—tất cả chỉ trong một hệ thống duy nhất.

Độ phân giải tối ưu cho mọi chế độ, môi trường

Từ phân tích khuyết tật điểm trong chất lỏng, bản đồ độ cứng, đến hình ảnh độ phân giải nguyên tử trong không khí và bản đồ độ dẫn điện, hệ thống Dimension XR mang lại độ phân giải cao nhất trong mọi phép đo. Ứng dụng công nghệ PeakForce Tapping độc quyền của Bruker, hệ thống đạt tiêu chuẩn cao cho cả vật liệu cứng và mềm, bao gồm hình ảnh khuyết tật tinh thể và khiếm khuyết phân tử trong polymer. Công nghệ này cũng đóng vai trò quan trọng trong việc phát hiện các nhám bề mặt nhỏ nhất trên kính mờ, đảm bảo độ chính xác trên hàng trăm ảnh quét. Kết hợp PeakForce Tapping, độ ổn định vượt trội, công nghệ đầu dò độc quyền và hàng thập kỷ đổi mới trong quét đầu dò của Bruker, hệ thống Dimension XR mang lại hình ảnh có độ phân giải cao nhất một cách nhất quán, hoàn toàn không phụ thuộc vào kích thước mẫu, trọng lượng hay môi trường, phù hợp với mọi ứng dụng nghiên cứu tiên tiến.

AFM-nDMA cải tiến

Lần đầu tiên, AFM có thể cung cấp phân tích nhớt đàn hồi hoàn chỉnh và định lượng của polyme ở cấp độ nano, thăm dò vật liệu ở tần số có liên quan đến lưu biến, trong chế độ tuyến tính. Phát hiện kênh đôi độc quyền, hiệu chỉnh độ trôi pha và theo dõi tần số tham chiếu cho phép đo biến dạng nhỏ trong phạm vi lưu biến từ 0,1 Hz đến 20 kHz có liên quan đến lưu biến để đo mô đun lưu trữ, mô đun và tiếp tuyến thất thoát ở cấp độ nano liên quan trực tiếp đến DMA khối.

Chế độ DataCube độc ​​quyền

Các chế độ này sử dụng FASTForce Volume để thực hiện phổ lực-khoảng cách ở mọi điểm ảnh, với thời gian dừng do người dùng xác định. Sử dụng tốc độ thu thập dữ liệu cao, nhiều phép đo điện được thực hiện trong thời gian dừng, tạo ra phổ điện và cơ học ở mọi điểm ảnh. Các chế độ DataCube cung cấp đặc tính đầy đủ trong một thí nghiệm duy nhất.

 

 

PeakForce SECM độc quyền

Với độ phân giải không gian dưới 100 nm, chế độ này định nghĩa lại những gì có thể thực hiện được trong hình ảnh hóa quy mô nano của các quá trình điện và hóa học trong chất lỏng. PeakForce SECM cải thiện đáng kể, theo cấp số nhân, khả năng phân giải so với các phương pháp tiếp cận truyền thống. Điều này cho phép nghiên cứu hoàn toàn mới về hệ thống lưu trữ năng lượng, khoa học ăn mòn và cảm biến sinh học, mở ra cánh cửa cho các phép đo mới trên từng hạt nano, nanophase và nanopore. Chỉ có PeakForce SECM cung cấp khả năng chụp đồng thời các bản đồ địa hình, điện hóa, điện và cơ học với độ phân giải ngang quy mô nanomet.