Hệ thống Dimension IconIR™ với khả năng phân tích mẫu lớn của Bruker kết hợp quang phổ hồng ngoại (IR) ở quy mô nano và kính hiển vi đầu dò quét (SPM) trên cùng một hệ thống, mang lại các khả năng tiên tiến nhất về quang phổ, tạo ảnh và lập bản đồ tính chất vật liệu cho các nhà nghiên cứu trong lĩnh vực học thuật và công nghiệp. Dựa trên nhiều thập kỷ nghiên cứu và đổi mới công nghệ, IconIR cung cấp hiệu suất vượt trội, kế thừa và phát triển từ hệ thống đo AFM hàng đầu của Dimension Icon®. Hệ thống này cho phép thực hiện kính hiển vi tương quan và tạo ảnh hóa học với độ phân giải cao và độ nhạy đến cấp độ đơn lớp. Thiết kế hỗ trợ mẫu lớn giúp tối ưu hóa tính linh hoạt, phù hợp với nhiều ứng dụng nghiên cứu khác nhau. Giải pháp IconIR dành cho polymer là một gói tích hợp sẵn, cung cấp mọi công cụ cần thiết để đáp ứng các yêu cầu nghiên cứu về polymer.
Dimension IconIR là thiết bị dẫn đầu về hiệu suất đo AFM-IR, tận dụng những cải tiến trong nguồn laser IR, thiết kế hệ thống và chế độ vận hành.
Quy trình làm việc dễ dàng
Tối đa hóa hiệu suất đo với hệ thống AFM-IR dễ vận hành.
Lập bản đồ hóa học & tính chất đa chế độ
Cung cấp dữ liệu hóa học, cơ học và điện tử quy mô nano, hỗ trợ phân tích vật liệu toàn diện.
Công nghệ tạo ảnh AFM-IR quang nhiệt độc quyền với độ phân giải dưới 5nm
Đạt độ phân giải cao nhất và tỷ lệ tín hiệu/nhiễu tốt nhất, cho phép phát hiện đến cấp độ đơn lớp.
Khả năng và hiệu suất nanoIR độc quyền
Trong một hệ thống duy nhất, IconIR cung cấp hiệu suất cao nhất cho quang phổ hồng ngoại ở cấp độ nano, độ phân giải hình ảnh hóa học và độ nhạy của lớp đơn.
Chỉ có Dimension IconIR mới mang lại:
Phổ nanoIR hiệu suất cao với tương quan FTIR chính xác và có thể lặp lại, độ phân giải hóa học <5 nm và độ nhạy lớp đơn
Hình ảnh hóa học tương quan với chế độ nano cơ học và nano điện PeakForce Tapping®
Hình ảnh AFM hiệu suất cao nhất và tính linh hoạt của mẫu không gì sánh bằng với khả năng thích ứng với mẫu lớn*
Phạm vi ứng dụng phối hợp phụ kiện và chế độ AFM rộng nhất hiện có, bao gồm Chế độ AFM-IR nhạy với bề mặt mới
*Hệ thống tiêu chuẩn hỗ trợ các mẫu có kích thước lên tới 150 mm, cũng có các dòng có khả năng chứa các mẫu lớn hơn.
Kính hiển vi tương quan đầy đủ nhất
Cùng với công nghệ lập bản đồ tính chất nano PeakForce Tapping độc quyền của Bruker và công nghệ quang phổ nanoIR độc quyền, hệ thống Dimension IconIR dành cho mẫu lớn đặc biệt phù hợp cho các nghiên cứu tương quan về vật liệu và hệ thống nano hoạt động trong môi trường điện hoặc phản ứng hóa học—thậm chí là các hệ thống phức tạp có tính không đồng nhất cơ học mạnh.
IconIR cung cấp:
Kỹ thuật lập bản đồ định lượng tính chất tiên tiến
Giải pháp kính hiển vi tương quan hoàn chỉnh nhất cho đặc tính nano hóa học, nano cơ học và nano điện định lượng
Phổ học NanoIR hiệu suất cao nhất
Phổ AFM-IR tăng cường cộng hưởng chất lượng cao được thu thập tại các vị trí khác nhau trên hỗn hợp polyme PS-LDPE, minh họa độ nhạy cao của vật liệu và hiểu biết sâu sắc hơn về các đặc tính vật liệu ở quy mô nano.
Bruker là đơn vị tiên phong trong quang phổ nanoIR dựa trên AFM-IR quang nhiệt với bộ chế độ nanoIR độc đáo được cấp bằng sáng chế. Các chế độ này cho phép IconIR cung cấp quang phổ tốc độ cao, hiệu suất cao tương quan với quang phổ FTIR. Sự đa dạng của các chế độ hỗ trợ việc đo lường nhiều loại mẫu cho cả người dùng công nghiệp và học thuật.
IconIR cung cấp:
Hiệu suất cao nhất, phổ phong phú, chi tiết với tương quan FTIR đạt được phổ phân tử đơn
AFM-IR tăng cường cộng hưởng, kỹ thuật được cộng đồng nanoIR ưa chuộng, với số lượng ấn phẩm khoa học lớn nhất
Hiệu suất cao nhất Tapping AFM-IR quang phổ tương đương với AFM-IR tăng cường cộng hưởng
Hình ảnh hóa học có độ phân giải cao nhất
Hình ảnh hóa học có độ phân giải cao của khối đồng trùng hợp PS-b-PMMA ở chế độ Tapping AFM-IR cho thấy địa hình mẫu (a); Hình ảnh IR ở 1730 (b); và 1492 cm-1 (c) làm nổi bật PMMA và PS tương ứng. Các mũi tên màu vàng trong bảng (b) biểu thị độ phân giải hóa học <5 nm. Hình ảnh chồng (d) chụp bản đồ thành phần.
Hiệu suất AFM hàng đầu trong ngành của Icon và công nghệ chụp ảnh Tapping AFM-IR được cấp bằng sáng chế của Bruker giúp nâng cao độ phân giải không gian và khả năng tiếp cận mẫu của công nghệ nanoIR của chúng tôi, mở rộng ứng dụng của công nghệ này sang các phân khúc hiện chưa được xử lý bằng kỹ thuật AFM-IR quang nhiệt.
IconIR cung cấp:
Độ phân giải không gian hóa học <5 nm để chụp ảnh trên nhiều loại mẫu, bao gồm cả mẫu mềm
Độ nhạy đơn lớp để chụp ảnh màng mỏng và cấu trúc sinh học
Dữ liệu có thể xuất bản nhất quán, đáng tin cậy và chất lượng cao
Đo lường hóa học nhạy cảm bề mặt đáng tin cậy cho màng polyme
Hiểu chi tiết tính chất hóa học ở lớp bề mặt trên cùng
Lớp phủ trên cùng (xanh lá cây) thu được ở chế độ Nhạy với bề mặt; Lớp phủ trên cùng + Màng film khối (nâu) thu được ở chế độ Tăng cường cộng hưởng màng film khối Polyimide.
Sử dụng chế độ AFM-IR nhạy cảm với bề mặt được cấp bằng sáng chế mới của Bruker , IconIR làm giảm đáng kể độ sâu thăm dò hóa học từ hơn 500 nanomet xuống còn hàng chục nanomet, đồng thời loại bỏ nhu cầu cắt ngang để kết hợp liền mạch hình ảnh hóa học có độ phân giải không gian cao và độ nhạy bề mặt cao.
EN