Bruker’s Dimension Icon® mang đến hiệu suất, chức năng và khả năng tiếp cận AFM ở mức cao nhất cho các nhà nghiên cứu nano trong khoa học và công nghiệp. Được xây dựng trên nền tảng AFM mẫu lớn được sử dụng nhiều nhất trên thế giới, đây là đỉnh cao của nhiều thập kỷ đổi mới công nghệ, phản hồi của khách hàng và tính linh hoạt ứng dụng hàng đầu trong ngành. Hệ thống đã được thiết kế từ trên xuống dưới để mang lại độ chuyển động thấp và nhiễu thấp mang tính cách mạng cho phép người dùng có được hình ảnh không có hiện tượng nhiễu trong vài phút thay vì vài giờ. Với danh mục phần cứng và phần mềm mở rộng ngày càng tăng, hiệu suất vô song này có thể tiếp cận được với các nhà nghiên cứu trên phạm vi ứng dụng rộng nhất, hỗ trợ ngay cả những mục tiêu nghiên cứu tiên tiến và sáng tạo nhất.
Đầu dò hiệu suất cao
Đạt độ phân giải vượt trội cho mẫu lớn với mức nhiễu tối thiểu, giảm nền nhiễu và độ trôi <200 pm.
Thiết lập dễ dàng
Cung cấp thiết lập đơn giản, quy trình làm việc trực quan và kết quả nhanh chóng, đảm bảo dữ liệu chất lượng cao để công bố.
Hệ thống mở linh hoạt
Hỗ trợ đa dạng thí nghiệm, chế độ, kỹ thuật và các phép đo bán tự động.
Hiệu suất và độ phân giải cao
Độ phân giải vượt trội của Dimension Icon, kết hợp với các thuật toán quét điện tử độc quyền của Bruker, mang đến cho người dùng sự cải thiện đáng kể về tốc độ và chất lượng đo lường. Icon là sự kết hợp giữa công nghệ AFM quét đầu dò hàng đầu trong ngành của Bruker, kết hợp các cảm biến vị trí bù nhiệt độ để tạo ra mức độ nhiễu trong phạm vi dưới angstrom cho trục Z và angstrom trong XY. Đây là hiệu suất vượt trội trong hệ thống phạm vi quét 90 micron, mẫu lớn, vượt qua mức độ nhiễu vòng hở của AFM có độ phân giải cao. Thiết kế mới của đầu vòng kín XYZ cũng mang lại tốc độ quét cao hơn mà không làm giảm chất lượng hình ảnh, cho phép thông lượng lớn hơn để thu thập dữ liệu. Công nghệ PeakForce Tapping® độc quyền của Bruker cho phép Dimension Icon thường xuyên tạo ra hình ảnh có độ phân giải cao nhất.
Mạng lưới mica phân giải nguyên tử được chụp ở chế độ tiếp xúc ở tần số 0,6Hz.
Năng suất ấn tượng
Dòng AFM Dimension đã tạo ra nhiều dữ liệu nghiên cứu được công bố hơn bất kỳ nền tảng AFM mẫu lớn nào khác, xây dựng danh tiếng vững chắc trong cả lĩnh vực nghiên cứu và công nghiệp. Dimension Icon nâng tầm nền tảng này với hiệu suất cao hơn và tốc độ phân tích nhanh hơn. Phần mềm với quy trình làm việc trực quan giúp thực hiện ngay cả những kỹ thuật AFM tiên tiến nhất một cách dễ dàng hơn bao giờ hết. Người dùng Dimension Icon có thể đạt được kết quả chất lượng cao ngay lập tức mà không cần điều chỉnh phức tạp. Từng chi tiết của hệ thống—từ thiết kế mở giúp tiếp cận đầu dò và mẫu dễ dàng đến các cài đặt phần mềm được cấu hình sẵn—đều được tối ưu để mang lại trải nghiệm AFM đơn giản và hiệu quả đáng ngạc nhiên.
Giao diện người dùng đồ họa của Dimension Icon.
Tính linh hoạt tối đa
Hệ thống Dimension Icon mang đến hiệu suất mạnh mẽ, độ bền cao và sự linh hoạt để thực hiện hầu như mọi phép đo ở quy mô mà trước đây chỉ có thể đạt được bằng các hệ thống tùy chỉnh phức tạp. Với hệ thống mở, giá đỡ mẫu lớn hoặc đa mẫu, cùng nhiều tính năng hỗ trợ, Icon mở rộng khả năng của AFM cho cả nghiên cứu và công nghiệp, thiết lập tiêu chuẩn mới trong hình ảnh AFM chất lượng cao và thao tác nano.
Dimension Icon mang đến sự linh hoạt mà không ảnh hưởng đến hiệu suất:
Tùy chỉnh nền tảng để kết hợp với các kỹ thuật khác.
Dễ dàng điều chỉnh nghiên cứu với phần mềm và phần cứng mở
Giải pháp toàn diện cho nghiên cứu pin, pin mặt trời hữu cơ…
Trái: Tương quan AFM-Raman khi ở trong buồng cách ly. Phải: Phụ kiện AFM quang dẫn.
Bộ điều khiển AFM NanoScope 6
Với tốc độ cao hơn, tiếng ồn thấp hơn và tính linh hoạt chế độ AFM lớn hơn, bộ điều khiển NanoScope 6 cho phép người dùng khai thác toàn bộ tiềm năng của hệ thống Dimension và MultiMode AFM hiệu suất cao. Bộ điều khiển thế hệ mới nhất này cung cấp độ chính xác, độ tin cậy và tính linh hoạt chưa từng có cho các phép đo bề mặt ở cấp độ nano trong mọi ứng dụng.
NanoScope 6 cho phép:
Hoạt động ở nhiều chế độ chụp ảnh hơn so với các hệ thống cạnh tranh, bao gồm các chế độ AFM độc đáo và tiên tiến đòi hỏi khả năng kiểm soát và phân tích phức tạp;
Thu thập dữ liệu định lượng chính xác để đo tính chất điện nano và cơ nano trong mọi ứng dụng; và
Tối ưu hóa và tùy chỉnh các thông số quét để đáp ứng ngay cả những yêu cầu đo lường khắt khe nhất trong nghiên cứu và công nghiệp.
Mở rộng ứng dụng với chế độ AFM
Với bộ chế độ hình ảnh vượt trội, Bruker cung cấp các kỹ thuật AFM phù hợp cho mọi nghiên cứu.
Dựa trên nền tảng của các chế độ hình ảnh cốt lõi—Contact Mode và Tapping Mode—Bruker phát triển các chế độ AFM cho phép phân tích tính chất điện, từ tính và cơ học của mẫu. Công nghệ đột phá PeakForce Tapping của Bruker đánh dấu một bước tiến mới trong hình ảnh AFM, tích hợp vào nhiều chế độ để thu thập đồng thời dữ liệu địa hình, tính chất điện và cơ học của vật liệu.
EN