Hệ thống kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) Dimension FastScan ® được thiết kế đặc biệt để quét nhanh mà không làm mất độ phân giải, mất khả năng kiểm soát lực, tăng thêm độ phức tạp hoặc chi phí vận hành. Với FastScan, bạn có thể có được hình ảnh AFM ngay lập tức với độ phân giải cao như mong đợi của một AFM hiệu suất cao. Cho dù bạn quét ở tần số >125Hz khi khảo sát mẫu để tìm vùng quan tâm hay ở tốc độ thời gian 1 giây cho mỗi khung hình ảnh trong không khí hoặc chất lỏng, FastScan đều định nghĩa lại trải nghiệm AFM.
Hiệu suất cao không thỏa hiệp
Đảm bảo độ phân giải cao nhất mọi lúc, bất kể kích thước mẫu.
Động học nano thời gian thực
Cung cấp tốc độ quét đầu dò tối ưu và độ ổn định để quan sát trực tiếp các hành vi động trong không khí hoặc chất lỏng.
Thiết lập, thu thập và phân tích dữ liệu tự động
Đơn giản hóa vận hành hệ thống, tăng năng suất, giúp bạn tập trung vào nghiên cứu.
Bộ điều khiển AFM NanoScope 6
Với tốc độ cao hơn, tiếng ồn thấp hơn và tính linh hoạt chế độ AFM lớn hơn, bộ điều khiển NanoScope 6 cho phép người dùng khai thác toàn bộ tiềm năng của hệ thống Dimension và MultiMode AFM hiệu suất cao. Bộ điều khiển thế hệ mới nhất này cung cấp độ chính xác, độ tin cậy và tính linh hoạt chưa từng có cho các phép đo bề mặt ở cấp độ nano trong mọi ứng dụng.
NanoScope 6 cho phép:
- Hoạt động ở nhiều chế độ chụp ảnh hơn so với các hệ thống cạnh tranh, bao gồm các chế độ AFM độc đáo và tiên tiến đòi hỏi khả năng kiểm soát và phân tích phức tạp;
- Thu thập dữ liệu định lượng chính xác để đo tính chất điện nano và cơ nano trong mọi ứng dụng; và
- Tối ưu hóa và tùy chỉnh các thông số quét để đáp ứng ngay cả những yêu cầu đo lường khắt khe nhất trong nghiên cứu và công nghiệp.
Mở rộng ứng dụng với chế độ AFM
Với bộ chế độ hình ảnh vượt trội, Bruker cung cấp các kỹ thuật AFM phù hợp cho mọi nghiên cứu.
Dựa trên nền tảng của các chế độ hình ảnh cốt lõi—Contact Mode và Tapping Mode—Bruker phát triển các chế độ AFM cho phép phân tích tính chất điện, từ tính và cơ học của mẫu. Công nghệ đột phá PeakForce Tapping của Bruker đánh dấu một bước tiến mới trong hình ảnh AFM, tích hợp vào nhiều chế độ để thu thập đồng thời dữ liệu địa hình, tính chất điện và cơ học của vật liệu.
EN