Tính năng
■ Phân tích độ dày lớp mạ kim loại, phân tích thành phần kim loại và kiểm tra phát hiện chất cấm RoHS bằng phưong pháp huỳnh quang quang phô’ tia X, tuân thủ theo DIN ISO 3497 và ASTM B 568
■ Đầu dò bán dần chất lượng cao (PIN-Diode và SDD) cho độ phân giải cao và kết quả đo chính xác
■ Đo phát hiện những nguyên tố nhẹ như nhôm, silic, lưu huỳnh trên dòng máy XAN 250 hoặc XAN 252
■ Khẩu độ: cố định hoặc tuỳ chọn 04 chế độ, kích thước điểm đo nhỏ nhất khoảng 0.3mm
■ Bộ lọc tín hiệu: cố định hoặc tuỳ chọn 06 chế độ
■ Bàn đo cố định hoặc di chuyên bằng tay
■ Camera cho phép theo dõi chính xác vị trí cần đo
■ Cho phép kích thước vật mầu cao tối đa 17cm
Ứng Dụng
■ Phân tích không phá huỷ thành phần hợp kim trong nha khoa, phân tích thành phần bạc
■ Đo phân tích độ dày các lớp ạ nhiều lớp
■ Đo phân tích các lớp mạ với độ dày tối thiểu 10nm trong ngành vật liệu điện tử và bán dần
■ Đo phát hiện vi lượng kim loại nặng và các chất độc hại trong sản phẩm, ví dụ như hàm lượng chì trong đồ choi trẻ em
■ Phân tích thành phần các mầu kim loại quý với độ chính xác cao cho ngành kim hoàn và chế tác trang sức